Veranstaltungsdetail

S Stichproben (AMS, Teil II)

Zufallsstichproben sind das wohl am häufigsten verwendete Auswahlverfahren für sozialwissenschaftliche Erhebungen. Sie werden bei allen großen Erhebungen wie dem Mikrozensus, SOEP, pairfam, NEPS, SHARE, AID:A etc. eingesetzt. Die Analyse solcher Daten setzt ein Verständnis der zugrundeliegenden Stichprobendesigns sowie entsprechender Gewichtungsverfahren voraus.

Das Seminar behandelt zunächst die Elemente der häufigsten Stichprobendesigns. Dann werden die Zusammenhänge des Stichprobendesigns mit Schätzern von Mittelwerten und einfachen Modellen untersucht. Abschließend werden modell-basierte und modell-unterstützte Ansätze und Verfahren vorgestellt. Alle Begriffsbildungen werden anhand von R Programmen illustriert.

Ziel des Seminars ist es, die grundlegenden Begriffsbildungen und Techniken an einfachen Beispielen so transparent darzustellen, dass Teilnehmer_innen stichprobenbasierte Analyse- und Gewichtungsverfahren selbstständig durchführen und interpretieren können.


Voraussetzungen für Studiennachweise / Modulprüfungen

Übungen am Rechner (Studiennachweis) bzw. Bearbeitung von Übungsaufgaben (Modulprüfung)

Lehrende

Prof. Dr. Ulrich Pötter

Termine

  • Samstag, 18.11.2017
    10:00 bis 17:00 Uhr
    FNO 02/074 CIP-Raum

  • Sonntag, 19.11.2017
    10:00 bis 17:00 Uhr
    FNO 02/074 CIP-Raum

  • Samstag, 09.12.2017
    10:00 bis 17:00 Uhr
    FNO 02/074 CIP-Raum

  • Sonntag, 10.12.2017
    10:00 bis 17:00 Uhr
    FNO 02/074 CIP-Raum

Anmeldung

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